Praxiswissen: Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen, induziert durch hochfrequente elektromagnetische Felder

0,00
Aus ELVjournal 01/2012     0 Kommentare
 Praxiswissen: Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen, induziert durch hochfrequente elektromagnetische Felder

Inhalt des Fachbeitrags

PDF- / Onlineversion herunterladen

Hochfrequente Energie kann auf Leitungen, die direkt an ein elektronisches Gerät angeschlossen sind, Betriebsstörungen eben dieses Gerätes verursachen. Diese hochfrequenten Energien werden meist durch Störquellen wie z. B. Funksendeanlagen oder auch Geräte zur Steuerung von Leistungselektronik (Umrichter, PWM-Steuerungen) verursacht.

Allgemeines

Die Auswirkungen sind vielfältig. Im datenverarbeitenden Bereich können etwa Signalleitungen beeinflusst werden. Als Beispiel seien hier LAN-Leitungen, aber auch USB-Leitungen genannt. Hier sei angemerkt, dass USB-Leitungen gemäß USB-Spezifikation eine maximale Länge von bis zu 5 Meter haben dürfen. Befindet sich eine solche Leitung z. B. im elektromagnetischen Feld einer Funksendeanlage (UKW-Sender, KW-Sender, Amateurfunk-Station), wirkt diese Leitung prinzipiell wie eine Empfangsantenne. Durch das elektromagnetische Feld werden Störströme in die Leitung eingekoppelt, die zu Kommunikationsfehlern oder Systemabstürzen führen können.

Fachbeitrag online und als PDF-Download herunterladen

Fachbeitrag herunterladen


Laden Sie die komplette Ausgabe 01/2012 inkl. dieses Beitrags herunter. zum Inhalt


Die ELVjournal-Flatrate!
Für nur EUR 24,95 im Jahr erhalten Sie Zugriff auf alle verfügbaren Fachbeiträge.

Inhalt

Sie erhalten den Artikel in 2 Versionen:

online  als Online-Version

pdf  als PDF (4 Seiten)

Sie erhalten folgende Artikel:
  • Praxiswissen: Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen, induziert durch hochfrequente elektromagnetische Felder
    • 1 x Journalbericht


Hinterlassen Sie einen Kommentar:
(Anmeldung erforderlich)
  Name
  E-Mail